應(yīng)根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求，鄭州控制柜在其他每一個(gè)隔室中重復(fù)進(jìn)行下述試驗(yàn)/試驗(yàn)方式：GB1984-2003的試驗(yàn)方式T100s、T100a和臨界電流試驗(yàn)(如果有)，適用時(shí)，應(yīng)考慮該標(biāo)準(zhǔn)對試驗(yàn)連接布置的要求；GB1985-2004的E1級或E2級短路關(guān)合操作(適用時(shí))；GB3804-2004的試驗(yàn)方式1,10次CO操作；根據(jù)E1級、E2級或E3級，進(jìn)行試驗(yàn)方式5，除非該負(fù)荷開關(guān)沒有額定短路關(guān)合能力(適用時(shí))；GB16926-1997的試驗(yàn)方式TDsC、TDIWma和TDItransfer；按照GB/T14808-2001的6.106對SCPD進(jìn)行的配合驗(yàn)證。鄭州控制柜如果某個(gè)隔室設(shè)計(jì)采用多種類型或設(shè)計(jì)的開關(guān)裝置時(shí)，對每一種情況都應(yīng)按照上述項(xiàng)以及適用時(shí)的項(xiàng)b)中的要求進(jìn)行全部試驗(yàn)。

外觀檢查應(yīng)足以判定是否已經(jīng)保證了回路的連續(xù)性。如果對某個(gè)接地連接的連續(xù)性有懷疑，則應(yīng)從該接地連接到提供的接地點(diǎn)通以30A(DC)來驗(yàn)證，電壓降應(yīng)不超過3V。鄭州控制柜開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備以及試驗(yàn)回路的布置，按規(guī)定，并做如下補(bǔ)充：被試設(shè)備的布置應(yīng)能獲得最嚴(yán)酷的條件：未支撐母線的最大長度、設(shè)備內(nèi)連接和導(dǎo)體的布置。在開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備包含有雙母線系統(tǒng)和/或多層設(shè)計(jì)的情況下，則試驗(yàn)應(yīng)在開關(guān)裝置處于最嚴(yán)酷的位置上進(jìn)行。鄭州控制柜到開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備端子連接的布置應(yīng)避免端子承受不實(shí)際的應(yīng)力或支撐。

應(yīng)在規(guī)定的相數(shù)下，通以額定電流進(jìn)行溫升試驗(yàn)，電流從母線的一端流向與電纜連接的末端。對單個(gè)功能單元進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，其相鄰的單元應(yīng)通以電流，該電流所產(chǎn)生的功率損耗應(yīng)與額定情況下相同。鄭州控制柜如果無法在實(shí)際條件下進(jìn)行試驗(yàn)，則允許以加熱或膈熱的方法來模擬其等價(jià)條件。如果外殼內(nèi)還安裝有其他的主要功能元件，它們應(yīng)承載這樣的電流，該電流產(chǎn)生的功率損耗與額定條件相對應(yīng)。鄭州控制柜功率損耗相同的其他等效程序也可以接受。各元件的溫升，應(yīng)以外殼外面的周圍空氣溫度作為基準(zhǔn)折算，各元件的溫升不應(yīng)超過各自標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。

通過試驗(yàn)的判據(jù)，按GB/T11022-1999的6.2.4的規(guī)定。但是，其中b)項(xiàng)的第段替換為：鄭州控制柜若滿足下列條件，則開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備通過了雷電沖擊電壓試驗(yàn)：a)非自恢復(fù)絕緣未發(fā)生破壞性放電；b)對每一個(gè)試驗(yàn)系列的15次沖擊試驗(yàn)，破壞性放電應(yīng)不超過兩次，且最后五次沖擊中破壞性放電應(yīng)不超過一次。鄭州控制柜如果最后五次沖擊試驗(yàn)中有次破壞性放電，則應(yīng)施加附加的五次試驗(yàn)驗(yàn)證且不應(yīng)出現(xiàn)擊穿。只要整個(gè)試驗(yàn)過程中放電總次數(shù)不超過兩次，可以重復(fù)增加五次試驗(yàn)。這會導(dǎo)致每系列試驗(yàn)的次數(shù)最多達(dá)到25次。