無線電干擾電壓試驗(yàn)不適用。陜西配電房回路電阻的測(cè)量，主回路按規(guī)定，并做如下補(bǔ)充：成套金屬封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備主回路兩端之間的電阻值，它表明電流通路的正常狀況。該電阻的測(cè)量值供出廠試驗(yàn)參考。輔助回路按規(guī)定。溫升試驗(yàn)，按規(guī)定，并做如下補(bǔ)充：如果設(shè)計(jì)具有多種元件或布置方案時(shí)，試驗(yàn)應(yīng)在最苛刻條件的那些元件和布置方案上進(jìn)行。陜西配電房具有代表性的功能單元應(yīng)盡量按正常使用條件來安裝，包括所有常規(guī)的外殼、隔板、活門等，并且在進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)應(yīng)將蓋板和門關(guān)閉。

如果隔室結(jié)構(gòu)不相似但采用完全相同的開關(guān)裝置，則應(yīng)根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求，陜西配電房在其他每一個(gè)隔室中重復(fù)進(jìn)行下述試驗(yàn)/試驗(yàn)方式：GB19842003的試驗(yàn)方式T100s、T100a和臨界電流試驗(yàn)(如果有)，適用時(shí)，應(yīng)考慮該標(biāo)準(zhǔn)6.103.4對(duì)試驗(yàn)連接布置的要求；GB1985-2004的E1級(jí)或E2級(jí)短路關(guān)合操作(適用時(shí))；GB38042004的試驗(yàn)方式1,10次CO操作根據(jù)E1級(jí)、E2級(jí)或E3級(jí)，進(jìn)行試驗(yàn)方式5，除非該負(fù)荷開關(guān)沒有額定短路關(guān)合能力(適用時(shí))。陜西配電房GB16926-1997的試驗(yàn)方式TDC、 TDIWmax和 TDItransfer；按照GB/T148082001的6.106對(duì)SCPD進(jìn)行的配合驗(yàn)證。

為了驗(yàn)證接地裝置和接地點(diǎn)之間連接回路的性能，需要進(jìn)一步進(jìn)行單相試驗(yàn)當(dāng)有可移開接地裝置時(shí)，應(yīng)在接地故障條件下，對(duì)固定部分與可移開部件之間的接地連接進(jìn)行試驗(yàn)。陜西配電房其接地故障電流應(yīng)在固定部分的接地導(dǎo)體和可移開部件的接地點(diǎn)之間流過。如果開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備中的接地裝置能在除正常工作位置外的另一位置進(jìn)行操作，例如，在雙母線開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備中，試驗(yàn)還應(yīng)在另一位置進(jìn)行。陜西配電房試驗(yàn)后，允許接地導(dǎo)體、接地連接或接地裝置有某些變形或損壞，但必須維持接地回路的連續(xù)性。

如果裝有限流熔斷器，應(yīng)按其規(guī)定的最大額定電流值裝設(shè)熔體試驗(yàn)后，外殼內(nèi)部的元件和導(dǎo)體，不應(yīng)出現(xiàn)任何影響主回路良好運(yùn)行的變形和損壞。陜西配電房接地回路試驗(yàn)，應(yīng)對(duì)金屬封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備的接地導(dǎo)體、接地連接和接地裝置進(jìn)行試驗(yàn)來驗(yàn)證其耐受額定短時(shí)耐受電流和峰值耐受電流的能力。即它們應(yīng)同有可能影響其性能或改變短路電流的所有附屬元件一起裝在金屬封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備上進(jìn)行試驗(yàn)。陜西配電房接地裝置的短時(shí)耐受電流試驗(yàn)應(yīng)進(jìn)行額定相數(shù)的試驗(yàn)。

如果開關(guān)裝置已經(jīng)在安裝條件更加嚴(yán)酷的金屬封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備中進(jìn)行了試驗(yàn)，則不需要進(jìn)行這些試驗(yàn)。陜西配電房在判定何種附件可能影響到開關(guān)裝置的性能時(shí)，應(yīng)特別注意短路引起的機(jī)械力、電弧生成物的排出以及破壞性放電的可能性等。應(yīng)認(rèn)識(shí)到，在某些情況下這些影響可以完全忽略。當(dāng)多層結(jié)構(gòu)的幾層隔室不完全相同但又采用相同的開關(guān)裝置時(shí)，陜西配電房則應(yīng)按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的適當(dāng)要求在每一層隔室重復(fù)下述試驗(yàn)/試驗(yàn)方式如果開關(guān)裝置已經(jīng)按照它們相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)在金屬封閉開關(guān)設(shè)備的外殼內(nèi)進(jìn)行了短路性能試驗(yàn)，則不再需要進(jìn)一步試驗(yàn)。